高频线缆的TDR特性阻抗测试示例(以USB3.0 Standard A/B测试为例)

高频线材/线缆(如:USB3.0、USB4.0、HDMI、SFC+等)在研发/设计验证、生产测试、品质管理等应用场景,都需要对产品的TDR特性阻抗进行测试,常用的测试指标包括:损耗、衰减、介电常数、传输延时、差分延时等高频参数,因此,一套快速、准确、标准的测试方案无疑可以极大的提升测试效率(www.xianai.net)。

“全仪测控”开发的高频线缆测试系统是一种综合型的高频测试体系,可在更换测试夹具的条件下,支持对各种高速数据线缆进行全自动性能测试。

测试流程:

高频线缆测试流程

测试使用器具:

(以测试USB3.0为例展示)

测试仪器和测试用具

USB3.0 测试夹治具

测试示例:

测试连接示例

测试软件界面展示:

全仪测控的软件测试界面

更为丰富的测试治具展示:

以USB为例,不同的测试治具展示

需要了解更多高频线缆的TDR特性阻抗测试信息,

可访问全仪测控的官网:http://www.quanyi-mc.com

官网另有:PCB TDR特性阻抗测试系统,射频器件测试系统,测试软件开发定制等内容,欢迎访问。

主营产品:若泰,三度